MIKROSTRUKTURZENTRUM

• Abbildende Untersuchuen (Sekundärelektronenkontrast) mit mikroskopischen und submikroskopischen Auflösung

REM-Aufnahme von Pollen (in Kooperation mit FNW / ABP)

Optisches Gitter in TiN (in Kooperation mit AMP)

TiN/Ir-Beschichtung auf lithograpisch modifizierten SiO₂-Oberfläche (in Kooperation mit FEIT / IMOS)

TiN/Ir-Beschichtung auf lithograpisch modifizierten SiO₂-Oberfköchen (in Kooperation mit FEIT / IMOS)

• Lokale Materialanalyse (Phasenidentifizierung, Konzentrationsprofile)

Bronzezeitlich geschmiedete Metallscheibe und EDX-Analysespektren