Unsere Labore
In den Labors des Mikrostrukturzentrums an der Fakultät für Naturwissenschaften steht unseren Mitarbeitenden und Studierenden ein umfangreiches Spektrum an Geräten und Messmethoden zur Verfügung, die auf die Charakterisierung optoelektronischer und struktureller Halbleitereigenschaften sowie die Struktur-Eigenschafts-Beziehungen an Konstruktionswerkstoffen ausgerichtet sind:
- Raster-Eletronen-Mikroskopie REM
- HITACHI S-4800 Feldemissions-REM ausgerüstet mit 2 SE-Detektoren, YAG-BE-Detektor, TE-Detektor, EDAX-EDX-Detektor
- JEOL JSM 5410 mit thermischen Wolfram-Emitter ausgerüstet mit SE-Detektor, Halbleiter-BE-Detektor, EDAX-EDX-Detektor
- Transmissions-Elektronen-Mikroskopie TEM
- FEI CM-200 mit EDAX-EDX-Detektor und CCD-Kamera keen view mit Bildakquirierungssystem analySISPro
- Tecnai F20 mit Kathodolumineszenzsystem MonoCL4 von Gatan
- Kathodoluminenszenzmikroskopie CL/CLI/CLWI
- gestützt auf ein CL-System am JEOL JSM 6400
- geeignet zur lateral und spektral hochaufgelösten Messung von CL-Maps sowie hoch-zeitaufgelösten CL-Verläufen
- Ionenmikroskopie / Focused Ion Beam FIB
- FIB Scios2
- FIB Scios2
- TEM-Präparationslabor
- komplette Labor-Austattung für eine Pallette von Präparationsmethoden, die eine Zielpräparation für die Probencharakterisierung entsprechend den Anforderungen erlauben.