TEM-Untersuchungen / Bildergalerie
- Abbildende Untersuchungen auf submikroskopischen Niveau
Kooloidale Goldnanopartikel für medizinische Tests
- Charakterisierung der Defektmorphologie
Bild links: Orientierungskontrast an einem Korngrenzentripelpunkt mit Versetzungslinien (oben rechts), Material - Eisen
Bild rechts: Orientierungskontrast an einer Kleinwinkelkorngrenze, Material - Eisen
Versetzungslinien in einer MoSiB-Legierung mit typischen "Schmetterlinks"-Kontrast
Versetzungslinien und Versetzungsring in einer MoSiB-Legierung für Hochtemperatureinsatz
Lokale Materialanalyse (Phasenidentifizierung, Konzentrationsprofile)
Energie-dispersieve Analyse von Bariumsulfat-Nanopartikel auf einem Kohlenstofffilm
- Hochauflösende TEM-Aufnahmen zur Charakterisierung von Gitterstruktur und Gitterfehler
Hochauflösende Aufnahme (HR-TEM) der atomaren Struktur von GaN nach Fourier-Bearbeitung
HR-TEM Abbildung des epitaktischen Übergangs zwischen Si und AlN (ohne Nachbearbeitung)
HR-TEM Abbildung eines Gitterdefekts (Versetzung) im GaN
HR-TEM Abbildung des Übergangs vom kristallinen Si zum amorphen SiOx.
Die eingelegten Bilder zeigen die jeweilige Fourieranalyse der Grauwertverteilung
Charakterisierung der Kristallstruktur mittels Elektronenbeugung
Subkörner in eienr hochverformten Ni-Basislegierung und ELekronenbeugungsbild, zeigt die Rotation zwischen den Subkörnern